開放光路型

SWI-FTIR500
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高光譜傅立葉開放光路型氣體監測設備

系統技術說明

本系統採用傅立葉轉換紅外光譜(FTIR)技術雙站式開放光路配置

透過量測與分析大氣中痕量氣體成分之紅外輻射「指紋特徵吸收光譜」,可實現多組分氣體的定量、線上、自動化監測

 

儀器類型 開放光路面源排放 VOCs 氣體分析儀

 

光譜定量分析演算法

  • 採用基於數位合成校準光譜之非線性最小二乘擬合演算法

  • 支援多氣體同步反演與濃度定量分析

 

主要技術指標

項目 規格說明
檢出限 ≤ 20 ppb
光譜資料庫 約 490 種氣體組分
防護等級 防塵 IP5X/防水 IPX3
抗振性能 10–55 Hz
測量光程 50 – 500 公尺
示值誤差 不超過實測值 ±10%
重複性 ≤ ±5%
波長重複性偏差 10 次測量之標準偏差 ≤ 0.01 cm⁻¹
波數準確性 ±0.03 cm⁻¹
干涉儀結構 傾斜補償式抗震型干涉儀

 

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